降低虛警的故障模糊聚類方法研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、機內測試(Built-in Test, BIT)技術是改善系統測試和診斷能力的重要途徑,但是較高的虛警率一直是阻礙廣泛應用的一個重要原因。降低虛警的方法研究成為當前國內外BIT技術研究的重點也是突破BIT技術發(fā)展瓶頸的關鍵所在。 本文從降低虛警的目的出發(fā),完成了以下工作: 1、通過對馬爾可夫兩態(tài)和三態(tài)模型的比較,選擇既能提高總故障檢測率又能降低虛警的三態(tài)模型作為研究的基礎,借鑒將系統狀態(tài)劃分為三態(tài)的思想,提出了將系統

2、狀態(tài)分為健康態(tài)、準故障態(tài)和故障態(tài)的概念。 2、系統狀態(tài)劃分為三態(tài)的關鍵是求取故障閾值,本文以現實故障診斷中所關注的總故障診斷率、虛警率、運行成本、運行風險和維修成本為主要因素構造了一個新的目標函數,通過目標函數尋優(yōu)取極值,得到了滿足要求的最佳故障閾值,并通過算例進行了驗證。 3、將標準故障樣本和待檢測樣本一起作為分類樣本,運用基于傳遞閉包的模糊等價矩陣法和F統計量對數據進行分類,判斷待檢測樣本的故障類型,達到了判明故

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