降低虛警的故障模糊聚類方法研究.pdf

1、機內(nèi)測試（Built-in Test, BIT）技術(shù)是改善系統(tǒng)測試和診斷能力的重要途徑，但是較高的虛警率一直是阻礙廣泛應(yīng)用的一個重要原因。降低虛警的方法研究成為當前國內(nèi)外BIT技術(shù)研究的重點也是突破BIT技術(shù)發(fā)展瓶頸的關(guān)鍵所在。 本文從降低虛警的目的出發(fā)，完成了以下工作： 1、通過對馬爾可夫兩態(tài)和三態(tài)模型的比較，選擇既能提高總故障檢測率又能降低虛警的三態(tài)模型作為研究的基礎(chǔ)，借鑒將系統(tǒng)狀態(tài)劃分為三態(tài)的思想，提出了將系統(tǒng)

2、狀態(tài)分為健康態(tài)、準故障態(tài)和故障態(tài)的概念。 2、系統(tǒng)狀態(tài)劃分為三態(tài)的關(guān)鍵是求取故障閾值，本文以現(xiàn)實故障診斷中所關(guān)注的總故障診斷率、虛警率、運行成本、運行風(fēng)險和維修成本為主要因素構(gòu)造了一個新的目標函數(shù)，通過目標函數(shù)尋優(yōu)取極值，得到了滿足要求的最佳故障閾值，并通過算例進行了驗證。 3、將標準故障樣本和待檢測樣本一起作為分類樣本，運用基于傳遞閉包的模糊等價矩陣法和F統(tǒng)計量對數(shù)據(jù)進行分類，判斷待檢測樣本的故障類型，達到了判明故