應力下的薄膜及納米顆粒的偏析.pdf

1、隨著薄膜技術的發(fā)展和薄膜材料的應用，關于薄膜表面與界面結構中成分和性質變化的研究引起了廣泛的關注。在表面和體內成分的研究中，表面偏析起了較大的作用。與體塊材料相比，薄膜材料厚度有限，缺乏儲存原子的能力，因此，當偏析原子到達材料的表面時，將會導致偏析原子在表面層的濃度遠遠大于在體內層的濃度。同時，由于原子間互擴散，薄膜和基質間的晶粒生長和/或適配等，實際的偏析效應會受到應力的影響，進而影響材料的相關性質。
　　本學論文基于修正的Da

2、rken偏析速率方程和尺寸效應的約束條件，根據(jù)應力對偏析效應的實際影響，在偏析驅動力-化學勢中引入應力項，推導得出應力作用下Darken平衡態(tài)和動態(tài)偏析方程，定量計算了應力對薄膜材料表面偏析的影響。并將修正的Darken偏析方程的應用從體塊材料和薄膜材料拓寬至納米顆粒。
　　本學位論文首先介紹了薄膜材料的制備和表征技術（第一章）；接著對應力的測量方法、原理和使用范圍進行了綜述（第二章）；基于修正的Darken偏析速率方程，在偏析的