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文檔簡介
1、隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子設(shè)備的功能越來越多、內(nèi)部的邏輯結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜,使得電子設(shè)備出現(xiàn)故障的概率增大、測試難度增強(qiáng)。因此,對電子設(shè)備的測試和故障診斷提出了新的要求。電子設(shè)備的遠(yuǎn)程自動測試技術(shù)作為電子測試領(lǐng)域中新的發(fā)展方向,主要采用計算機(jī)對測試系統(tǒng)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制,自動完成激勵、數(shù)據(jù)、測試矢量的發(fā)送,并對輸出的測試結(jié)果進(jìn)行處理和分析。邊界掃描技術(shù)作為IEEE標(biāo)準(zhǔn)的可測試性設(shè)計技術(shù),不僅可以應(yīng)用于系統(tǒng)、模塊和PCB中,也可以應(yīng)用于包含有大規(guī)模集
2、成芯片的電子設(shè)備中;使用此方法對電子設(shè)備進(jìn)行測試不但提高了故障檢測的準(zhǔn)確性,而且增強(qiáng)了測試系統(tǒng)的可靠性。本文在邊界掃描測試方法的基礎(chǔ)上,展開了對遠(yuǎn)程電子設(shè)備自動測試技術(shù)的研究。
本課題在融合了邊界掃描技術(shù)、自動測試方法以及遠(yuǎn)程網(wǎng)絡(luò)傳輸技術(shù)的基礎(chǔ)上,設(shè)計了一種基于邊界掃描技術(shù)的遠(yuǎn)程自動測試系統(tǒng)。首先,介紹了邊界掃描測試控制器和邊界掃描電路的設(shè)計過程,重點(diǎn)對邊界掃描測試控制器的組成、端口設(shè)計以及邊界掃描電路各部分的功能設(shè)計做了詳細(xì)
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