基于SEIR測試結構的ADC積分非線性的測試算法研究與實現.pdf

1、在電子工業(yè)中，高速高精度模數轉換器(ADC)作為連接現實模擬世界和數字處理系統之間的橋梁，其應用范圍已經深入工業(yè)領域的很多方面。但對ADC參數如積分非線性(INL)的測試變成了一個挑戰(zhàn)。標準的測試方法主要適用于中低分辨率ADC，而對于高分辨率ADC，也面臨著對信號源分辨率要求過高和總采樣點數龐大等局限性。因此，探索出一種對ADC積分非線性的高效測試方法具有重要意義。
　　本論文研究出一種基于SEIR測試結構的ADC積分非線性測試算

2、法。該算法搭建SEIR的測試結構，采用低分辨率信號源，使待測ADC采集到兩組只有固定偏差的數字碼，選擇傅里葉系數來直接建模ADC的INL曲線，并根據信號源輸入非線性在相同實驗環(huán)境不變的屬性和固定偏差的關系建立方程組，利用最小平方估計法(LS)擬合出這組傅里葉系數。為了進一步提高INL擬合曲線的精度，該算法采用分段擬合的方式將兩組輸出數字碼等分為多段。每段輸出數字碼都包含一段INL子曲線和一組傅里葉系數，代入到估計方法并獲得每段的傅里葉系

3、數，還要通過連續(xù)化的處理，從而得到整段INL擬合曲線，并且精度會進一步提高。
　　在所給算法的基礎上，本文通過MATLAB軟件進行一系列仿真，并設計14比特ADC待測模塊和10比特信號源模塊，搭建測試平臺，共同驗證算法的有效性。測試結果表明:標準直方圖方法測得的INL值范圍是-1.41LSB至1.48LSB;該算法在使用10比特信號源，并選擇20段和12階傅里葉系數時測得的INL值范圍是-1.01LSB至1.22LSB，兩者之間最